先导科技株式会社Lead Techno Co., Ltd.

压电体，受到外加电压后会自动伸缩，利用此特性，被用于各种传感器，激励器。近期，随着各种电子设备的小型化及高敏感化，压电体的材料研发重点，也从陶瓷，向有机树脂薄膜及薄膜基板等产品转移。

本公司在多年来积累的压电陶瓷检测技术上进行研发，为客户提供对各种压电特性检测方案及各种测量设备。

新型d33测量仪Piezo Reader

概要

• 测量压电产品的压电常数（d33/d31）的仪器 (测量対象：压电陶瓷片,薄膜基板, 压电薄膜等)
• 测量范围/负荷范围的分解能力高，特别适用于压电特性偏低的材料，以及有弹性容易变形的软材料产品的精准测量。

性能及规格

• 测量方法：直接施加负荷到被测物，测量施加负荷时所产生的电荷量
  • 测量范围：0~10,000pc/N (测量范围：7档可切换)
  • 分解能力：0.01pC/N（最小测量范围：0~10pc的时候）
  • 最大施加负荷：Max. 8N (分解能力：0.01N）
  • 通过专用软件(Piezopro)，在电脑上设定测量条件（施加负荷、施加时间等），测量结果显示在电脑屏幕上，数据自动保存在文件夹内。

测量例

• PZT薄膜基板测量

  • PZT薄膜Si基板：20×16mm（PZT厚：1μm）
  • 将Si基板夹到治具上测量

• AIN薄膜基板测量

  • 材料：AIN（厚1μm）
  • 尺寸：6英寸Si基板（无表面电极）
  • 印加荷重：1N

• 压电膜的d31测量

  • 材料：PVDF
  • 尺寸：30 ｘ 8 x 0.04mm （上下面有电极）
  • 测量条件：在1N拉伸力下、施加0.25N负荷

• d33值的温度特性评价

  • R.T.～Max.400℃
  • 通过加热器吹出热风

形变量仪、PE/SE仪Strain ・Polarization Tester

概要

• 压电材料的极化和形变特性测量
• 通过专用的软件，可实现从设定，测量，到制图处理
• 追加设置加热装置（另卖），即可对温度特性进行测量

性能及规格

• 测量频率：1mHz〜1Hz
• 形变量分辨率：0.01μm
• 静电容量：10nF～10μF
• 样品加热：Max.150℃

温度特性检测装置Temperature Characteristic Measuring System

居里温度测量系统（型号：LTC-02）

• 可测量样品尺寸：Max.Φ15 x 10mm
• 测量温度：R.T.~800°C (小型电热炉，配件夹具，专用软件)

d33温度特性检测系统（型号：LTT-01）

• 测量温度：-40~400°C →热风/冷风吹送，短时间内冷却，升温 (温度/流量控制，配件夹具等)